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0769-88030227
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設(shè)備：超聲波掃描顯微鏡SONIX ECHO-LS
廠商：SONIX
用途：無損檢測電子元器件、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過圖像對比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。
測試標準：《IPC/JEDEC J-STD-035 非氣密性封裝元件的聲學(xué)顯微鏡檢查方法》、 《IPC/JEDEC J-STD-020 非密閉式固態(tài)表面安裝組件的濕度/回焊敏感性分類》、《IPC/JEDEC J-STF-020 塑料集成電路SMD的潮濕/回流敏感性分類》
技術(shù)指標：
l 頻率范圍：（1～500）MHz
l 空間分辨率： 0.1μm
l 掃描面積達到：0.25～300mm
l 各種掃描模式：
l 超聲波傳輸時間測量（A掃描）
l 縱向截面成像（B掃描）、
l X/Y二維成像（C、D、G、X掃描）
l 三維掃描與成像。
l T-掃描方式：檢測透射信號
地址：廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號12棟5樓
電話：0769-33882377
郵箱：nfjc@cwbg-nf.com
傳真：0769-23078230